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分集合并的性能研究與仿真
全部作者: 謝園 第1作者單位: 北京郵電大學(xué)電信工程學(xué)院 論文摘要: 在移動(dòng)通信中,分集技術(shù)是1種有效的抗平坦衰落技術(shù)。本文對(duì)3種常見的線性合并分集技術(shù)進(jìn)行簡(jiǎn)要分析,給出它們的基帶表示和合并器輸出信噪比的概率密度函數(shù)(pdf),由此給出它們的合并增益。仿真實(shí)驗(yàn)包括2個(gè)部分,在SIDO系統(tǒng)中仿真的結(jié)果顯示:MRC性能最好,EGC性能稍差,而SC性能較差。最后比較了選擇式合并和等增益合并在不同接收分集支路數(shù)的情況下的誤碼率性能。結(jié)果表明,支路數(shù)L越大,分集合并的信噪比增益也越大,進(jìn)1步驗(yàn)證了理論分析的結(jié)果。 關(guān)鍵詞: 移動(dòng)通信,分集技術(shù),最大比率合并,選擇合并,等增益合并 (瀏覽全文) 發(fā)表日期: 2008年03月11日 同行評(píng)議:
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