關于微小微電子參量校準技術結構和流程論文

　　隨著電子技術的發(fā)展，各類電子電路技術在各種電器中的應用也越來越深入。而使用集電路測試系統(tǒng)進行電器中的微小微電子參量的獲取，則能夠確保生產的電器產品盾量達標。但在測試之前，考慮到微小微電子參量具有易受干擾的特點，還要使用校準技術進行參量的校準，才能夠真正確保電器產品的質量，繼而更好的進行電子電路技術的應用推廣。

　　1.集成電路測試系統(tǒng)的微小微電子參量特性

　　從參量特性上來看，微小微電子的參量具有量值小和易受干擾的特點。一旦系統(tǒng)的外部連接復雜，就容易導致測試系統(tǒng)的工作狀態(tài)發(fā)生改變。但是，如果系統(tǒng)測試狀態(tài)與原本工作狀態(tài)并不一致，就將導致系統(tǒng)測量失去意義。所以，還要了解系統(tǒng)微小微電子參量特性，以便通過校準參量確保系統(tǒng)的正常工作。

　　2.集成電路測試系統(tǒng)的微小微電子參量校準技術

　　2.1 校準裝置的系統(tǒng)結構分析

　　在校準集成電路測試系統(tǒng)的微小微電子參量時，需要使用專門的校準裝置。該裝置能夠根據微小參量特征實現對參量測量的優(yōu)化和設計，從而使系統(tǒng)保持較高的穩(wěn)定性和準確度。從結構上來看，該裝置主要由數據采集和數據處理兩部分組成。在系統(tǒng)輸入端，需要根據電流或電壓輸入進行電阻網絡的配置，從而使負載阻抗和電流-電壓轉換得到匹配。而通過將輸入信號調制到模數轉換的最佳范圍，則能夠實現數字化的增益控制。經過FPGA調整后，可以將模數轉換結果傳輸到DSP中，以便進行結果的分析和處理。所以利用FPGA控制，系統(tǒng)將能夠實現增益調整、模數轉換、數據通信和數據處理，并且擁有較好的穩(wěn)定性和工作效率。在對系統(tǒng)數據進行存儲時，需要使用FLASH進行校準數據的存儲，并且使用EEP-ROM進行采集部分身份和配置信息的存儲。從整體上來看，系統(tǒng)使用的模塊化設計方式，所以可以根據實際測量需要進行模塊的變更，以便更好的完成系統(tǒng)數據的采集。連接電源后，系統(tǒng)會進行身份和配置信息的自動讀取，然后進入到相應的測量模式。

　　2.2 校準裝置的軟件結構分析

　　從軟件結構上來看，校準裝置的軟件結構主要由三部分組成，即驅動部分、校準流程控制部分和數字信號處理部分。其中，驅動部分就是裝置的驅動軟件，可以對個電路模塊進行驅動。在系統(tǒng)電路中，自動增益開關、切換開關和數據同步等底層電路模塊都由系統(tǒng)驅動軟件驅動。而軟件能夠起到屏蔽底層電路工作細節(jié)的作用，并且能夠為流程控制提供應用控制接口。校準流程控制軟件是裝置應用控制接口，能夠使裝置校準流程要求得到滿足。利用軟件的上位機顯示和控制功能，該軟件能夠實現上位機通信，并且能夠為人機交互的實現提供接口。在裝置運行的過程中，應用該軟件能夠對裝置運行進行控制，并且進行狀態(tài)界面和數據界面的提供。此外，裝置的數字信號處理部分就是數字濾波和數字擬合軟件，能夠使裝置的抗千擾能力和信號質量得到提升。

　　2.3 參量校準的流程分析

　　從參量校準流程上來看，使用校準裝置將先進行電壓和電流的測量。在對電壓進行測量時，系統(tǒng)將使用開路測量模式。具體來講，就是先對電路進行初始化處理，然后使電路負載斷開。而根據電路信號幅值，系統(tǒng)將完成增益的調整，并且進行電壓測量比較。當結果落在合適的區(qū)間，系統(tǒng)將輸出寫寄存器驅動向量，然后利用ADC準換得到的數據信號進行輸出寄存器向量的觸發(fā)。完成轉換數據讀取后，控制單元會將數據轉化到DSP進行處理，然后利用端口將數據傳至上位機。在測量電流時，可以采取分流模式和反饋式模式。采取前一種模式，需要進行阻抗匹配，并要求源內阻比測量電路內阻要大，可以進行小電流測量。完成電流測量后，還要進行輸出結果板性調整。使用后一種模式，電流將經過I-V轉換后進入放大電路，并且需要完成符號位的調整。在對電壓電流進行校準時，需要將修正數據寫入到裝置，并且將其當成是測量參考值而通過將參考值和測量值寫入存儲器，并且進行曲線的擬合，則能夠實現電壓的查表修正。

　　3.結論

　　總之，使用專門的校準裝置進行集成電路測試系統(tǒng)微小微電子參量的校準，可以根據參量特點和裝置特殊性實現參量的修正。因此，相信隨著相關技術的發(fā)展，該類裝置將在集成電路測試中得到廣泛應用。

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