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數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的總體設(shè)計(jì)
摘 要
通過(guò)對(duì)學(xué)校數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱AEDK-DEC1的研發(fā)，剖析了現(xiàn)有實(shí)驗(yàn)設(shè)備存在的問(wèn)題：導(dǎo)線接觸不可靠；缺少面包板，不能模擬實(shí)驗(yàn)；連續(xù)脈沖信號(hào)源頻率過(guò)高；無(wú)數(shù)字電壓表等。改進(jìn)后的實(shí)驗(yàn)箱將彌補(bǔ)這些缺點(diǎn)，使其能夠滿足現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)的要求，更能發(fā)揮學(xué)生的主動(dòng)性和獨(dú)創(chuàng)性。
依據(jù)現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)箱為模板，對(duì)實(shí)驗(yàn)箱的總體布局加以設(shè)計(jì)，使各部件能夠協(xié)調(diào)的組合在一起，另外在設(shè)計(jì)中還特別增加萬(wàn)能芯片插座和面包板，在整體的布局中要占有很大的空間，妥善處理好各部件的位置，其中主要包括電源部分的放置選擇的合理性以便于實(shí)驗(yàn)，兩組電源引至負(fù)荷中心區(qū)，以減少線間高頻干擾。
關(guān)鍵詞：數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的研發(fā)、總體設(shè)計(jì)、面包板、數(shù)字電壓表。
Abstract
By way of the development to the school numeral experiments an AEDK- DEC1, analyze the problem of the existing experiment equipments existence: Lead the line contact not dependable; Be short of the breadboard, can't imitate the experiment; The continuous pulse signal source frequency undue lead high;Nil numeral voltmeter etc…The experiment box that improves the empress will make up these weaknesses, can make it satisfy the request that now experiment, even can develop the student's active and the unique.
The basis existing experiment box is a template, taking into the design to the total layout of the experiment box, making the combination that each parts can moderate been together, still increasing the all-powerful chip electric outlet and the breadboard specially in the design moreover, toing occupy the very big space in whole layout, each position of parts of appropriate processing, among them mainly include the power supply part of place the rationality of the choice in order to in experiment, two power supplies lead to the burden center area, to reduce the line high-frequency interference.
Keyword:The numeral experiments the development of the box, total design, breadboard, numeral voltmeter.
目 錄
摘 要 Ⅰ
Abstract Ⅱ
前 言 1
第一章 數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的總體概述 2
1.1概述 2
1.2國(guó)內(nèi)外研究的現(xiàn)狀分析 2
1.3 數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的技術(shù)性能及配置 3
1.4基本實(shí)驗(yàn)部分 3
第二章 數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的總體設(shè)計(jì) 4
2.1數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱的總體設(shè)計(jì)與布局 4
2.2 LED、高低電平的設(shè)計(jì)與制作 5
2.2.1概述 5
2.3半導(dǎo)體發(fā)光二極管工作原理、特性及應(yīng)用 6
2.3.1 LED的特性 6
2.3.4 發(fā)光二極管的檢測(cè) 7
2.4LED工作原理 9
2.4十六位高低電平的制作 10
第三章PCB印制電路板 11
3.1概述 11
3.2 電源、地線的處理 11
3.2.1 數(shù)字電路與模擬電路的共地處理 12
3.2.2 開關(guān)電源地線的布局 12
3.3元器件的放置 14
3.4設(shè)計(jì)規(guī)則檢查（DRC） 15
第四章 裝配和焊接 17
4.1焊接 17
4.2元器件的安裝 18
4.2.1雙列直插式集成電路的安裝 18
4.2.2元器件的裝插 18
4.3實(shí)驗(yàn)電路的故障檢查和排除 19
4.4數(shù)字電路的安裝與測(cè)試技術(shù) 20
4.4.1集成電路遠(yuǎn)見的邏輯功能測(cè)試 21
4.4.2集成電路器件的接插和布線方法 21
4.4.3數(shù)字電路的調(diào)試方法 21
4.4.4幾種基本電路的測(cè)試方法 22
結(jié) 論 24
參考文獻(xiàn) 25
致 謝 26
附 錄 27
前 言
為了適應(yīng)電子科學(xué)技術(shù)的高度發(fā)展和二十一世紀(jì)高等教育培養(yǎng)高素質(zhì)人才的需要，我們?cè)谝延械臄?shù)字實(shí)驗(yàn)箱的基礎(chǔ)上，總結(jié)了前人對(duì)實(shí)驗(yàn)箱的制作經(jīng)驗(yàn)，開始了我們的數(shù)字模擬綜合實(shí)驗(yàn)箱的設(shè)計(jì)�？紤]到素質(zhì)教育的特點(diǎn)，在設(shè)計(jì)數(shù)字實(shí)驗(yàn)箱時(shí)，既要保持多年形成的比較成熟的體系，又要面向新世紀(jì)的發(fā)展，既要符合實(shí)驗(yàn)課程的基本 要求，又要適應(yīng)當(dāng)?shù)匾M(jìn)電子技術(shù)中的新器件、新技術(shù)、新方法；即要掌握基礎(chǔ)知識(shí)，又要培養(yǎng)他們的動(dòng)手能力與創(chuàng)新意識(shí)。為此我們制定了“保證基礎(chǔ)知識(shí)，體現(xiàn)先進(jìn)，聯(lián)系實(shí)際，引導(dǎo)創(chuàng)新，分清層次，利于教學(xué)，節(jié)省資源”的設(shè)計(jì)原則，使我們?cè)O(shè)計(jì) 的實(shí)驗(yàn)箱有系統(tǒng)性和科學(xué)性， 啟發(fā)性、先進(jìn)性、實(shí)用性和適用性。由于電子電路分析和設(shè)計(jì)方法的現(xiàn)代化與自動(dòng)化，使定量計(jì)算更準(zhǔn)確和精確，因此本設(shè)計(jì)更側(cè)重電路結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)，力圖使實(shí)驗(yàn)者不但“知其然”還“知其所以然”從中獲得啟迪，并進(jìn)一步提高對(duì)數(shù)字電子技術(shù)與模擬電子技術(shù)的掌握與理解，本設(shè)計(jì)適當(dāng)引入了進(jìn)些年來(lái)電子技術(shù)的新器件、新技術(shù)、新方法，如：PCB印制電路板的制作繪畫制作，電容開關(guān)技術(shù)等。
由于我們的能力和水平有限，所以設(shè)計(jì)的產(chǎn)品若有疏漏欠妥和錯(cuò)誤之處，懇請(qǐng)各位老師指正，以便今后不斷改進(jìn)。
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